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计算机硬件技术
测试会议聚焦MEMS
      今年的测试会议将注意力转向了微电机系统(MEMS)技术。这个领域增长很快,引起了越来越多的测试工程师的关注。
      将在9月29日召开的国际测试会议(ITC 2003)包括两个MEMS系列讲座。其中一个介绍性的专题将覆盖MEMS设备的制造工艺。来自Sandia国家实验室和卡耐基梅隆大学的演讲者将介绍MEMS的设计、制造、工业使用等内容。
      另一个MEMS测试专题将讨论MEMS设备的失败机制。演讲者将介绍通过失败信息如何了解MEMS设备的测试细节。...
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计算机世界
2003年08月25日
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