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工业通用技术及设备
相干检测偏振共焦扫描显微成像技术
描述了相干检测偏振共焦扫描显微成像技术的原理、方法和实验结果 ,给出了成像条件 ,并用这种技术分析测试了掺杂半导体纳米材料 Cu Cl和 Ti O2 聚乙烯薄膜的局域双折射性质和偏振特性。
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应用激光
2000年03期

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