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物理学
~(127)I_2饱和吸收稳定612nm He-Ne激光器调制频移的实验测量与分析
本文测量了不同调制幅度时 He-Ne/I_2激光器在~(127)I_2R(47)9-2的 r、q、p、o、n 各条超精细饱和吸收谱线上的训制顿移。实验和分析表明,在大调制时,背景和交叉干扰对频移的影响较大,并且频移方向相同;在小调制时,调制信号的非简谐失真则是频移的主要来源。
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应用激光
1986年06期

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