激光椭偏仪多角入射法测定磁性石榴石薄膜的厚度和折射率-应用激光1985年06期-手机知网

激光椭偏仪多角入射法测定磁性石榴石薄膜的厚度和折射率

中国科学院上海冶金研究所,中国科学院上海冶金研究所,中国科学院上海冶金研究所, | 徐梅娣陈裕三刘湘林

本文叙述了椭偏仪在测量磁性单晶薄膜的光学常数和厚度中的应用。采用“多角入射法”,在波长6328(?),直接判别膜厚周期 D(?)的正整数倍 m(?),从而计算出2(?)>360°时外延膜的真空厚度.在入射角为75.0°时,我们测量了上述薄膜的厚度和折射率的重复误差。

机　构:

领　域:

物理学；

关键词:

椭偏仪；石榴石薄膜；