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测量激光光斑的频谱分析法
昆明物理研究所,昆明物理研究所, ;
|
尹达人
许生龙
本文提出了一种频谱分析法,该方法可以快速和精确的测量高斯光斑的参数,也可以测量非高斯成分的畸变参数
机 构:
昆明物理研究所,昆明物理研究所,;
领 域:
物理学
;
关键词:
激光光斑
;
非高斯
;
频谱分析法
;
畸变参数
;
3
43
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1985年04期
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