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排列间距对均匀阵列宽角扫描性能的影响
研究并验证了阵元间距对均匀阵列宽角扫描性能的影响。首先分析并讨论了均匀线阵和面阵阵因子在宽角扫描区域内的变化规律,研究表明:对于均匀线阵,阵因子对宽角扫描体现"过有利"特性,此时选取宽波束有源单元方向图单元组阵,便能完成宽角扫描;对于均匀面阵,阵因子对宽角扫描体现"欠有利"特性,此时,阵元间距的选取对面阵宽角扫描至关重要。据此,提出一款新型磁流元天线验证上述结论,该磁流元天线在xoz面具有138°的波束宽度,所组成的16元线阵和64元平面阵分别实现了75°和65°的扫描。文中的研究结果可为宽角扫描相控阵提供理论指导和设计便利。
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微波学报
2021年06期
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