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数字电路的可测试性分析
中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室
|
沈理
本文综述数字电路可测试性设计中的各种可测试性分析算法及其评价和应用。
机 构:
中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室;
领 域:
自动化技术
；
关键词:
可测试性设计
；
测试性分析
；
数字电路
；
重汇聚扇出
；
测试生成
；
分析算法
；
初级输出
；
4
80
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计算机研究与发展
1988年09期
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