普通X-射线荧光光谱仪分辨率的改善-分析化学1994年06期-手机知网

普通X-射线荧光光谱仪分辨率的改善

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作者为改善普通X-射线荧光光谱仪的分辨率和谱线的低能拖尾现象,于PW 1404谱仪上加了可拆卸的限制垂直发散准直器(6.5×20×50mm,片间距0.65mm)。实验结果表明:加了限制垂直发散准直器后,谱仪相对分辨率提高10％,谱仪非对称因子由1.4～1.5改善为1.0～1.18。为普通X-射线谱仪用于化学态分析提供了更为有利的条件。

机　构:

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领　域:

化学；

关键词:

X射线荧光光谱仪；化学态分析；限制垂直发散准直器；