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无线电电子学
数字电路功能级上的可测试性设计(摘要)
<正> 随着集成电路工业的不断发展,集成电路的规模按指数规律的趋势增加,而其输入、输出腿(测试只能通过这些腿)的数量则只按线性规律的趋势增加,这就给测试工作造成极大的困难。一九八二年在第十二届国际容错会议上已经指出:到目前为止,测试所需要的费用超过了设计所需费用,测试所需的时间也超过了设计时间。因此,在线路的设计阶段我们必须考虑它本身的可测试性能。围绕电路可测试性的分析与综合问题,前人作了不少的工作(文献[1]—[7])。尤其是最近提出的可测试性综合问题,使得集成电路的可测试性设计得
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重庆大学学报(自然科学版)
1985年S1期
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