手机知网 App
24小时专家级知识服务
打 开
计算机软件及计算机应用
微处理器控制部份的一种功能测试方法
控制部份是微处理器(μp)功能测试中最重要但又最棘手的部份,本文在微功能操作一级建立起μp控制部份的功能故障模型,并详细讨论了指令测试集的构成和μp内寄存器的控制和观察等问题。以此为基础,给出一在用户环境下进行μp控制部份功能测试的新方法。对方法的正确性和有效性,本文在理论上予以严格证明,和其他方法相比,本文提出的方法具有故障检测率高,测试序列较短,测试生成算法通用性强,简单规整,易于实现测试序列自动生成等一系列优点。
0 9
手机阅读本文
下载APP 手机查看本文
重庆大学学报(自然科学版)
1985年S1期
相似文献
图书推荐
相关工具书

搜 索