氟中毒大鼠中缝背核5—羟色胺能神经元的免疫细胞化学研究-中国地方病防治杂志1995年04期-手机知网

氟中毒大鼠中缝背核5—羟色胺能神经元的免疫细胞化学研究

锦州医学院病理教研室 ,中国医科大学组织胚胎教研室 ,中国医科大学组织胚胎教研室 ,中国医科大学组织胚胎教研室 | 陈学军宋可钦马廷贤

以饮用高氟水的方法制造了雄性大鼠慢性氟中毒模型。对脑干中缝背核5—羟色胺(5—HT)能神经元进行了免疫细胞化学定性、定量研究,结果显示,慢性氟中毒大鼠中缝背核5—HT能神经元略少,部分胞体缩小或肿大。胞质内5—HT阳性反应颗粒减少且界限不清。显微图像分析仪检测上述神经元内5—HT阳性反应颗粒明显减少。本研究揭示,高氟摄入对中枢5—HT能神经元有直接损害,对5—HT的产生有抑制作用。

机　构:

锦州医学院病理教研室 ,中国医科大学组织胚胎教研室 ,中国医科大学组织胚胎教研室 ,中国医科大学组织胚胎教研室;

领　域:

基础医学；

关键词:

氟中毒大鼠；中缝背核； 5-HT能神经元；免疫细胞化学；