手机知网 App
24小时专家级知识服务
打 开
物理学
XRD实验中样品台高度对测定晶格常数的影响
X射线衍射(XRD)实验是分析物质结构的重要手段,在物理学相关专业的教学中逐渐受到重视.本文对样品台高度变化Δz引起的测量误差进行了系统分析,发现样品台高度偏移Δz会使衍射峰位产生明显偏差Δ2θ,进而引起晶面间距和晶格常数的计算偏差.数据拟合结果表明Si样品晶面间距偏差Δd/d和晶格常数偏差Δa/a与Δz近似线性相关.本文结合Bragg-Brentano衍射几何,对上述实验结果进行了理论分析.本文对XRD实验精确测定晶格常数提供了参考依据,也将为相关教学工作开展提供重要参考.
领 域:
格 式:
PDF原版;EPUB自适应版(需下载客户端)
0 967
手机阅读本文
下载APP 手机查看本文
大学物理
2022年09期
相似文献
图书推荐
相关工具书

搜 索