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环境科学与资源利用
半导体生产排放的废气和废水中砷、磷、硫的分析方法研究
研究了一种快速、灵敏、可靠的高温氢还原 -气相色谱分析方法 [1 - 2 ] ,,并自行设计了高温还原系统 (还原炉、六通阀等 ) ,测定半导体生产排放废气和废水中的砷、磷、硫及其化合物 ,样品不需预处理 ,使气相色谱仪能直接测定固、液、气相样品中砷、磷、硫及其化合物的含量。砷、磷、硫的检测限分别为 0 .0 1 mg/ L、0 .0 0 3mg/ L、0 .0 2 mg/ L ;相对标准偏差分别为 6.2 %、8.6%和 0 .3% ,与经典方法进行对比 ,结果基本一致。从分析方法的误差统计角度 ,也说明该方法准确、可靠。
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重庆环境科学
2003年12期
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