手机知网 App
24小时专家级知识服务
打 开
无线电电子学
基于FPGA的ASIC芯片抗辐射性能评估系统
针对航天电子控制系统对集成电路的抗辐射需求,设计了一种基于现场可编程门阵列(FPGA)的全新架构的专用集成电路(ASIC)抗辐射性能评估系统。该系统基于FPGA高性能、高速度、高灵活性和大容量的特性,不仅具备传统芯片评估系统的能力,还具备精确判定失效事件发生时刻、被测ASIC时序、内部状态及大致的内部路径位置的能力。对该系统进行单粒子翻转(SEU)辐射试验,试验结果表明,在81.4 MeV·cm~2·mg~(-1)的线性能量转移阈值下,该系统能自动判别没有发生SEU事件。目前,该系统已成功应用于自研高可靠性ASIC芯片抗辐射性能的评估。
0 48
手机阅读本文
下载APP 手机查看本文
半导体技术
2021年03期
相似文献
图书推荐
相关工具书

搜 索