摘要
ABSTRACT
目录
缩写与术语
第一章 绪论 §1.1、低成本电子元器件质量分析控制的意义 §1.2、针对低成本荧光灯电子镇流器的电子元器件质量管理 §1.3、本章小结
第二章 电子元器件六西格玛质量管理方法概述 §2.1、电子元器件的质量 §2.2、国内外电子器件可靠性发展与现状 §2.3、六西格玛简介 §2.3.1、六西格玛的意义 §2.3.2、六西格玛管理的优势 §2.4、电子元器件质量管理中引入的解决方案(DMAIC 方法) §2.4.1、DMAIC 模型 §2.4.2、DMAIC 模型在电子元器件质量管理中的应用 §2.4.3、MINITAB 简介 §2.5、本章小结
第三章 DMAIC 模型应用分析 §3.1、基于关键元器件的界定 - DEFINE §3.1.1、关键电子元器件的确定 --- MEOST §3.1.2、关键电子元器件的确定 --- 排列图法 §3.2、基于关键元器件的测量 - MEASURE §3.2.1、产品的失效与寿命分布 §3.2.2、加速寿命试验的定义与分类 §3.2.3、GB2689 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法 §3.3、基于测量结果的分析 - ANALYZE §3.4、基于关键元器件的质量改进 - IMPROVE §3.4.1、试验设计方法介绍 §3.4.2、析因试验设计方法 §3.4.3、响应曲面设计方法 §3.5、基于改进后的过程控制 - CONTROL §3.5.1、过程改进成果的文件化 §3.5.2、建立过程控制计划 §3.5.3、实施持续的过程测量和控制 §3.6、本章小结
第四章 针对低成本荧光灯电子镇流器的元器件质量管理方法 §4.1、荧光灯电子镇流器简介 §4.1.1、荧光灯电子镇流器的发展及其技术参数 §4.1.2 荧光灯交流电子镇流器的工作原理 §4.2、HS II 荧光灯电子镇流器中关键电子元器件的界定 §4.2.1、HS II 荧光灯镇流器成本分析 §4.2.2、关键器件的分析与确定 §4.3、关键电子元器件的可靠性测试 §4.3.1、关键电子器件的加速寿命试验设计 §4.3.2、加速寿命试验结果分析 §4.4、失效样品的分析 §4.5、关键电子器件的过程改进 §4.5.1、MOSFET SW4N60A1 的改进试验设计-部分析因试验 §4.5.2、MOSFET SW4N60A1 的改进试验设计-响应曲面试验 §4.5.3、MOSFET 改进结果的试验验证 §4.6、关键电子器件的改进过程控制 §4.6.1、改进后 MOSFET 的工艺文件更新 §4.6.2、持续的过程测量与控制 §4.7、本章小结
第五章 总结和展望 §5.1、主要结论 §5.2、研究展望
参考文献
致谢
攻读工程硕士学位期间发表的论文