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无线电电子学
基于复用的SoC测试集成和IEEE P1500标准
以复用核测试为目标的测试策略是解决SoC测试问题的基础。IEEE P1500标准是国际上正在制订的嵌入式核测试标准,该标准旨在简化核测试信息的复用,提高SoC级测试集成的效率。本文将介绍截至目前P1500标准的制订情况,包括嵌入式核测试的体系结构、P1500的标准化目标、P1500的两级服从认证等。
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第三届中国测试学术会议论文集
2004年
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