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仪器仪表工业
基于IEEE 1641的面向信号自动测试系统体系结构设计
本文研究了基于IEEE 1641标准的面向信号的自动测试系统体系结构,这种体系结构代表了自动测试系统软件的最新发展趋势。建立符合IEEE 1641标准的自动测试系统能极大地提高软件的可移植性、可重用性和仪器可互换性;构建基于IEEE 1641的面向信号的自动测试系统对现代化测试系统的发展以及武器装备的维护保障都具有显著的意义。本文给出了以IEEE 1641标准组建面向信号的自动测试系统的必要性和优越性;介绍了IEEE 1641标准的层次结构、信号模型、面向信号的仪器功能描述方法以及符合标准要求的ATS体系结构,重点介绍了以XML语言进行面向信号的仪器功能描述的示例;本文通过自动测试系统体系结构的设计实例,说明了基于IEEE 1641标准构建面向信号的自动测试系统的实现方案。
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2011下一代自动测试系统学术研讨会论文集
2011年
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