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热释电非致冷焦平面器件BST晶片制备
昆明物理研究所
|
张丽华
讨论了在热释电材料 BST 物理性能不理想的情况下,通过材料优选,改善磨抛工艺,制备出边角完整,平行差小于2μm,光洁如镜面的16mm×16mm,厚度25μm 的非致冷焦平面器件 BST 晶片。保证了128×128元焦平面芯片网格化和倒焊互连工艺的顺利实施。
领 域:
物理学
;
关键词:
热释电 BST 材料
;
非致冷焦平面
;
磨抛工艺
;
网格化
;
倒焊互连
;
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'99十一省(市)光学学术会议论文集
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