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航空航天科学与工程
IDT7164在~(40)Ar束流中单粒子效应
在氩束流中,测试了IDT7164芯片的单粒子事件翻转效应,记录了不同程序运行中的实验结果,由此计算了芯片的截面。并比较了芯片的存储单元处在不同电位时的单粒子翻转效应。
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中国空间科学学会空间探测专业委员会第九次学术会议论文集
1996年
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