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大功率发光二极管可靠性和寿命评价试验方法

贺卫利;郭伟玲;高伟;史辰;陈曦;吴娟;陈建新

  介绍了发光二极管(LED)的发展简史。提出可能影响LED可靠性的几种因素,主要有封装中的散热问题和LED本身材料缺陷。对于LED可靠性,主要方法是通过测试其寿命来分析其可靠性,一般采取加速实验的方法来测试推导LED寿命。介绍了根据加速应力(主要分为单一加速应力和复合加速应力2种)评价LED寿命的测试方法。在不同加速试验应力条件下测试了大功率LED可靠性,并建立了LED寿命的几种数学模型。最后根据具体实例,通过选择加速应力和试验方法,给出具体推导LED寿命的数学公式。……   
[关键词]:发光二极管;寿命评价试验方法;加速应力;数学模型
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《应用光学2008年04期
[格式]:PDF原版; EPUB自适应版(需下载客户端)