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基于混沌遗传算法的故障测试集最小化方法

康波;陈光■;吕炳朝

  利用混沌序列的随机性、遍历性及规律性等特点来控制遗传算法中交叉与变异操作 ,即混沌交叉与混沌变异 ,提出了一种改进的遗传算法——混沌遗传算法 ,并针对数字集成电路的故障完备测试集的最小化问题的具体特点 ,分析并设计了基于混沌遗传算法的故障测试集最小化方法 ,仿真实验验证了该方法的高效性与实用性 ,其性能明显优于标准遗传算法。……   
[关键词]:混沌;遗传算法;混沌交叉;混沌变异;测试;完备测试集
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《仪器仪表学报2005年01期
[格式]:PDF原版; EPUB自适应版(需下载客户端)
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