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电感耦合等离子体发射光谱法直接测定纳米Y_2O_3中的杂质含量

李玲;彭丽萍;王志强

  提出了一种在光谱定性半定量的前提下 ,选择最佳工作参数 ,用电感耦合等离子体发射光谱法 (ICP -AES)直接测定纳米氧化钇中杂质含量的方法 ,为纳米稀土粉末材料的定量分析提供了科学依据 ,方法简便快速……   
[关键词]:氧化钇;纳米;电感耦合等离子体发射光谱
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《现代科学仪器2004年03期
[格式]:PDF原版; EPUB自适应版(需下载客户端)