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关于矿物晶体中缺陷的X射线形貌研究

周衡南

  近十余年来,各种X射线、中子射线形貌技术及激光散射层析形貌技术,并结合电子显微镜与电子探针微区分析等近代测试技术在矿物晶体研究中的广泛应用,引起了人们浓厚的兴趣.有关矿物晶体中范性形变与相变的研究,联系到矿物中各种缺陷的产生和运动,以及地壳或地幔演变历史的探索等……   
[关键词]:电子显微镜;生长层;生长机制;矿物晶体;位错密度;孪晶界面;形貌观察
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《物理1986年03期
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