手机知网 App
24小时专家级知识服务
打 开
手机知网|搜索

一款通用CPU的存储器内建自测试设计

何蓉晖;李华伟;李晓维;宫云战

  存储器内建自测试 (memorybuilt-inself-test,MBIST)是一种有效的测试嵌入式存储器的方法 .在一款通用CPU芯片的可测性设计 (design -for-testability ,DFT)中 ,MBIST作为cache和TLB的存储器测试解决方案被采用 ,以简化对布局分散、大小不同的双端口SRAM的测试 .5个独立的BIST控制器在同一外部信号BistMode的控制下并行工作 ,测试结果由扫描链输出 ,使得测试时间和芯片引脚开销都降到最小 .所采用的march 13n算法确保了对固定型故障、跳变故障、地址译码故障和读写电路的开路故障均达到 10 0 %的故障覆盖率 .……   
[关键词]:存储器内建自测试;故障模型;march算法;可测性设计
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《同济大学学报(自然科学版)2002年10期
[格式]:PDF原版; EPUB自适应版(需下载客户端)
App内打开