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透明晶体均匀性全息检测法

周焜;陈祯培;钟永碧;陈君玖;郭履容

  本文叙述了一种用全息二次曝光产生的透射干涉纹和晶体前后表面产生的反射干涉纹、联合求解透明晶体折射率均匀性△n分布的新方法.对晶体进行测量时采用线偏振光,可由实验分别测出晶体对寻常光的折射率均匀性△n。和对非常光的折射率均匀性△n_(c)。在此基础上逐点计算出晶体的双折射率均匀性(△(n_c-n_0))/(△Z).……   
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