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基于MCU的可测试性设计

孙艺;汪东旭

  根据MCU(MicroControlerUnit)结构非常复杂且具有指令系统的特点,没有采用一般数字电路设计的从结构出发的DFT(DesignForTestability)技术,而是设定了MCU的3种工作模式,提出了一种在MCU中加入规模很小的模式选择电路,对部分电路作较小改动,就可以对芯片内的各块电路进行功能测试的方法。在完成了MCU的可测性设计后进行了仿真,结果表明电路能正常工作在各种模式下。……   
[关键词]:可测试性设计;微控制器;扫描设计;内建自测试
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《微电子学1999年03期
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