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数字电路冗余故障测试产生算法研究

门玉峰

  数字电路中的冗余故障会导致电路面积、延迟、功耗的增加,而且对于多个固定型故障,如果多个故障中的一个是冗余的,则冗余故障的出现可能屏蔽其他可测试故障的存在,而冗余故障却不能被传统测试方法检测出。如果能够找到某种检测冗余故障的有效方法,那将会对提高电路性能产生积极作用。本文则详细对数字电路冗余故障测试产生算法进行了研究。……   
[关键词]:冗余故障;测试产生算法;模拟结果及分析
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《科协论坛(下半月)2008年12期
[格式]:PDF原版; EPUB自适应版(需下载客户端)
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