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基于FPGA的内建自测试的实现研究

胡湘娟;何怡刚;游望星;刘美容

  内建自测试技术源于激励-响应-比较的测试机理,信号可以通过边界扫描传输到芯片引脚,因而即使BIST本身发生故障也可以通过边界扫描进行检测;为了解决大规模SOC芯片设计中BIST测试时间长和消耗面积大的问题,提出了一种用FPGA实现BIST电路的方法,对测试向量发生器、被测内核和特征分析器进行了研究;通过对被测内核注入故障,然后将正常电路和注入故障后的电路分别进行仿真,比较正常响应和实际响应的特征值,如果相等则认为没有故障,否则发生了特定的故障;利用ModelSim SE 6.1f软件仿真结果表明了该方法的正确有效性和快速性。……   
[关键词]:内建自测试;FPGA;线性反馈移位寄存器
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《计算机测量与控制2009年12期
[格式]:PDF原版; EPUB自适应版(需下载客户端)
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