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嵌入式只读存储器的内建自测试设计

刘峰

  随着存储器件日益向着高速、高集成方向发展,依靠外部设备对嵌入式存储器的测试变得越来越困难,内建自测试是解决这个问题的有效方法;文中详细分析了存储器的故障表现和诊断算法,给出了嵌入式只读存储器的内建自测试的一种设计实现,同时研究了将边界扫描技术与只读存储器的内建自测试相结合、形成层次化系统芯片SoC的设计策略。……   
[关键词]:嵌入式只读存储器;内建自测试;故障模型;march算法
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《计算机测量与控制2006年05期
[格式]:PDF原版; EPUB自适应版(需下载客户端)
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