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带时间参数的测试产生

李华伟;李忠诚;闵应骅

  时延测试对于高速集成电路非常重要.本文介绍一个带时间参数的时延测试产生系统.该系统使用一个时刻逻辑值表来表示一个波形,并将输入波形限制为只有唯一的一个输入在0时刻有跳变,其它输入为稳定的0或1,从而实现了波形敏化条件下的时延测试产生.与以往的不考虑时间因素的时延测试产生系统相比,带时间参数的测试产生提高了故障覆盖率,并且更接近于电路的实际.……   
[关键词]:时间参数;测试产生;波形敏化
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《计算机学报1999年04期
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