手机知网 App
24小时专家级知识服务
打 开
手机知网|搜索

用于I_(DDT)测试的BIST测试向量生成器

汪昱;邝继顺

  检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大降低测试开销。本文采用一种具有规则性、模块化和层叠结构的自动控制单元(CA),来构造产生测试向量对的 BIST模块。实验证明,该方法用于瞬态电流测试是有效的。……   
[关键词]:内建自测试;测试生成;自动控制单元;瞬态电流测试
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《计算机工程与科学2005年04期
[格式]:PDF原版; EPUB自适应版(需下载客户端)
App内打开