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一种选择折叠计数状态转移的BIST方案

梁华国;方祥圣;蒋翠云;欧阳一鸣;易茂祥

  提出了一种选择折叠计数状态转移的BIST方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过选定的存储折叠距离来控制确定的测试模式生成,使得产生的测试模式集与原测试集相等·既解决了测试集的压缩,又克服了不同种子所生成的测试模式之间的重叠、冗余·实验结果证明,建议的方案不仅具有较高的测试数据压缩率,而且能够非常有效地减少测试应用时间,平均测试应用时间仅仅是类似方案的4%·……   
[关键词]:内建自测试;折叠计数器;测试数据压缩
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《计算机研究与发展2006年02期
[格式]:PDF原版; EPUB自适应版(需下载客户端)
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