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嵌入式存储器内建自测试的一种新型应用

孙华义;郑学仁;闾晓晨;王颂辉;吴焯焰

  当今,嵌入式存储器在SoC芯片面积中所占的比例越来越大,成为SoC芯片发展的一个显著特点。由于本身单元密度很高,嵌入式存储器比芯片上面的其它元件更容易造成硅片缺陷,成为影响芯片成品率的一个重要因素。本文对采用MARCH-C算法的嵌入式存储器内建自测试进行了改进,实现了对嵌入式存储器故障的检测和定位,能够准确判断故障地址和故障类型,使嵌入式存储器故障修复更加快捷、准确,同时达到故障覆盖率高、测试时间短的目的。……   
[关键词]:SoC;嵌入式存储器;MARCH算法;故障检测
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《中国集成电路2007年11期
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