手机知网 App
24小时专家级知识服务
打 开
手机知网|搜索

发射光谱法测定金属钴中的16个元素

施平

  金属钴经化学预处理后 ,其基体和杂质元素均转化为氧化物 ,用发射光谱法测定其中 1 6个杂质元素 ,该方法的测定范围可基本满足国标 GB6 51 7- 86中对一号钴与三号钴的分析要求 ,方法的相对标准偏差为 6 .89%~ 1 8.2 4 %。 ( n=1 3)……   
[关键词]:发射光谱分析;金属钴;杂质元素
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《分析试验室2000年04期
[格式]:PDF原版; EPUB自适应版(需下载客户端)