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组合电路可测试性技术的研究

谢明恩;于盛林

  随着集成电路设计规模的不断增大,在芯片中特别是系统芯片SOC(systemonachip)中组合电路的可测试性设计方法变得越来越重要。本文采用内建自测试技术对组合电路进行可测试性设计。文中详细分析了组合电路内建自测试的实现原理,通过将测试生成及响应分析逻辑置入电路内部,提高了电路的可控制性和可观察性,从而可使该电路的测试和诊断快速而有效。最后对8位行波进位加法器的内建自测试设计过程进行了详细分析,并通过MAX+plusII进行了实现。……   
[关键词]:组合电路;内建自测试;线性反馈移位寄存器
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《电子测量技术2007年06期
[格式]:PDF原版; EPUB自适应版(需下载客户端)
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