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集成电路可测性设计IO复用方法

张玥;万培元;林平分

  超大规模集成电路特征尺寸逐步缩小的发展过程中,芯片面积是制约芯片成本的最重要因素之一,也是直接影响半导体产品市场竞争力的最重要因素之一。本文介绍了将所有可测性设计(DFT)的输入输出端口(IO)与各种类型的正常功能工作模式的IO复用的方法,从而达到减少IO并最终减小芯片面积的目的。介绍了输入信号和输出信号分别在单向端口IO和双向端口IO中复用的方法。然后,以一款经过0.18μm逻辑工艺流片验证的flash存储器控制芯片为例,对比了采用IO复用方法前后芯片的利用率和面积,证明了方案的可行性和有效性。……   
[关键词]:面积;输入输出端口;复用;可测性设计;测试模式选择
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《半导体技术2011年09期
[格式]:PDF原版; EPUB自适应版(需下载客户端)
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