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基于March C-算法的SRAM BIST电路的设计

须自明;苏彦鹏;于宗光

  针对某SOC中嵌入的8K SRAM模块,讨论了基于March C-算法的BIST电路的设计。根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率,研究了测试算法的选择、数据背景的产生,并完成了基于March C-算法的BIST电路的设计。实验证明,该算法的BIST实现能大幅提高故障覆盖率。……   
[关键词]:静态存储器;MarchC-算法;内建自测试
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《半导体技术2007年03期
[格式]:PDF原版; EPUB自适应版(需下载客户端)
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