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SOC的可测试性设计策略

周宇亮;马琪

  介绍了几种主要的VLSI可测性设计技术,如内部扫描法、内建自测试法和边界扫描法等,论述如何综合利用这些方法解决SOC内数字逻辑模块、微处理器、存储器、模拟模块、第三方IP核等的测试问题,并对SOC的可测性设计策略进行了探讨。……   
[关键词]:可测试性设计;系统芯片;内部扫描;内建自测试;边界扫描
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《半导体技术2006年09期
[格式]:PDF原版; EPUB自适应版(需下载客户端)
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