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系统芯片的测试技术

熊险峰;张红南;杨献;陈为;司孝平

  简述了片上系统的基本概念,分析了目前片上系统测试技术所面临的问题。对即将成为主流测试方法的内建自测试技术(BIST)进行了详尽地论述,并提出了两种新的BIST综合测试技术。……   
[关键词]:内建自测试;系统芯片;可测性检测
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《半导体技术2003年02期
[格式]:PDF原版; EPUB自适应版(需下载客户端)
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