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系统芯片SOC的BIST测试研究

方祥圣;曹先霞

  针对系统芯片SOC测试出现的难题,介绍了几种目前国际上研究较热的内建自测试BIST(Built InSelf Testing)方法,分析了这几种方法的优缺点,并对其作出探讨,最后,展望了系统芯片SOC的BIST发展。……   
[关键词]:SOC芯片;伪随机测试;测试模式;BIST
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《安徽建筑工业学院学报(自然科学版)2006年03期
[格式]:PDF原版; EPUB自适应版(需下载客户端)
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