一种集成光学器件的寿命研究

　　常温下估计集成光学器件的贮存寿命和使用寿命是一项周期较长工作。针对此问题对集成光学器件进行了寿命研究,提出了根据器件的物理特性和使用特性,用高温加速贮存寿命试验和高温加速使用寿命试验[1]来等效环境应力产生的影响,在较短时间内评估器件的贮存和使用寿命。详细介绍了威布尔分布形状参数值处于一个界限内时应用最优置信限法,对器件的可靠性指标的最优置信下限进行估计的方法。最后采用加速寿命试验数据进行计算,得出器件常温下的寿命指标。……