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采用重配置技术压缩FPGA内BRAM的测试时间

李智韬;冯建华;罗宏伟

  FPGA内BRAM的测试是目前测试领域研究的重点.利用FPGA本身可以部分重配置的特点,改进BIST结构可以缩短测试时间降低测试成本.全部测试只需要一次完整配置和两次重配置即可完成.测试电路采用成熟的March算法以保证测试覆盖率达到较高的水平,同时,测试电路中还加入了正确输出预计算模块,以避免故障屏蔽现象的发生.该方法已在Xilinx公司的Virtex4系列FPGA上实现.……   
[关键词]:FPGA测试;BIST;BRAM;部分重配置
[文献类型]:会议论文
[文献出处]: 《第六届中国测试学术会议论文集2010年
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