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片上SRAM内建自测试的实现方法

马琪;裘燕锋

  存储器内建自测试(MBIST)技术是目前芯片嵌入式存储器测试的最通用方法.本文介绍了基于自编RTL和基于SynopsysRambist EDA技术的两种片上SRAM BIST电路方法.……   
[关键词]:片上SRAM;内建自测试;MBIST算法
[文献类型]:会议论文
[文献出处]: 《第六届中国测试学术会议论文集2010年
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