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基于无关位动态赋值的幂次划分测试压缩方案

徐三子;梁华国;顾婉玉;刘杰

  随着集成电路制造工艺的不断发展,单芯片的集成度越来越高,通过集成各种IP核,系统芯片的功能更加强大,但同时也带来了测试数据量的快速增加.本文提出了一种幂次划分测试数据压缩方法,它将测试数据按照2的幂次长度划分成四种类型,对分块中无关位进行填充后,再依据一种码表对每个分块进行编码.与传统的编码压缩方法相比,本方案进一步提高了压缩率.……   
[关键词]:测试数据压缩;幂次;无关位
[文献类型]:会议论文
[文献出处]: 《第六届中国测试学术会议论文集2010年
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