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基于JTAG的故障注入研究

钱军;左德承;苗百利;杨孝宗

  通过对ARM JTAG调试原理的研究,提出了一种利用ARM调试技术实现故障注入的方法。该方法通过软件方式利用硬件芯片的调试功能模拟部分硬件管脚故障,实现了一种新的非接触式硬件故障注入途径。……   
[关键词]:JTAG;ARM;调试;故障注入
[文献类型]:会议论文
[文献出处]: 《第五届中国测试学术会议论文集2008年
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