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基于混合遗传算法的测试壳优化

王永生;曹贝;肖立伊

  本文针对兼容于IEEE 1500标准的测试壳,提出了采用基于BFD(FFD)的混合遗传算法的测试壳优化方案。遗传算法是一种解决NP问题的有效方法,针对测试壳的结构特点, 构建新的混合遗传算法,解决测试壳优化问题。在利用较少的测试端口的情况下,最长测试壳扫描链长度得到普遍缩短;对于ITC’02基准电路d695和p93791电路,最大的缩短量可达2%。……   
[关键词]:测试壳;遗传算法;系统级芯片
[文献类型]:会议论文
[文献出处]: 《第四届中国测试学术会议论文集2006年
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