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变长序列重复播种内建自测试方案探讨

杨懿;周瑞华;黄维康

  本文提出一种变长序列重复播种的内建自测试方案,该方案使用重复播种技术,每个种子所产生的伪随机测试向量的序列长度不同。和文献[1,2]的等长序列重复播种的内建自测试方案一样,本文提出的方案也采用检测原始伪随机向量序列难以检测的故障的测试作为种子,并使用压缩技术把种子保存在ROM中。但由于重播种子产生的伪随机测试向量序列的长度可不同,因而, 测试向量总长度可比等长序列方案短,测试施加时间可减少,而增加的硬件开销甚少,且故障覆盖率和等长序列方案相同。本文给出了实现变长序列重复播种内建自测试方案的具体方法,并把它应用于ISCAS85基准电路。结果表明,本文提出的方案与等长序列重复播种的内建自测试方案比较, 平均至少能减少近22.9%的测试时间(最多达52%),而电路面积平均只增加1.4%。……   
[关键词]:集成电路测试;内建自测;线性反馈移位寄存器
[文献类型]:会议论文
[文献出处]: 《第三届中国测试学术会议论文集2004年
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