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基于指令集的处理器时延测试产生方法

方红霞;李华伟;李晓维

  随着半导体工艺的发展,微处理器的时延测试面临着越来越多的问题,基于指令集的处理器时延测试产生是一种很好的尝试方法。它能在处理器的正常操作模式运行处理器自身的指令来进行测试。本文针对处理器的数据通路中的通路时延故障提出一种基于指令集的处理器时延测试产生方法。对于每条指令,提取出状态矩阵,并基于状态矩阵将通路分为功能不可测和潜在功能可测的,对潜在功能可测通路,记录潜在测试指令(序列)组合,提取控制约束,在门级进行有约束的时延测试产生。最后的测试指令由控制指令(序列)+潜在测试指令(序列)+观测指令(序列) 构成。该方法要用到处理器的指令集体系结构,RTL级描述和门级网表。……   
[关键词]:时延测试;指令集;处理器;通路
[文献类型]:会议论文
[文献出处]: 《第三届中国测试学术会议论文集2004年
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