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针对线间串扰现象的静态定时分析

沈培福;李华伟

  超深亚微米工艺下,线间串扰是导致电路故障的主要的原因之一。尽管可能导致故障的线间串扰的数量是巨大的,但真正会引起故障的线间串扰却相对较少。因此,如果能在对电路验证或测试前进行静态定时分析,找出那些导致电路故障的线间串扰,则可以有效提高测试生成效率, 并降低测试成本。基于此目的,文章在静态定时分析中引入对线间串扰现象的分析,在线时延模型基础上使用了重叠跳变对故障模型,只需要求出与最长通路的重叠跳变对即可。在对ISCAS 89基准电路的实验中,各电路需要测试的串扰数平均减少至10%以下。本文的实验结果相对于已发表的实验结果具有较高的CPU效率。……   
[关键词]:串扰;重叠跳变对;时延测试;静态定时分析
[文献类型]:会议论文
[文献出处]: 《第三届中国测试学术会议论文集2004年
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