手机知网 App
24小时专家级知识服务
打 开
手机知网|搜索

异步逻辑的可测试性设计技术

吕涛;李晓维

  可测试性设计(Design for Test,简称DFT)是芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种硬件逻辑,从而提高芯片可测试性。其中,异步逻辑的可测试性设计是一个重要的领域。本文介绍了异步逻辑可测试性设计的原理,包括降低设计方案可测试性的异步逻辑的种类,针对各类情况的解决方案,以及存储块周围阴影逻辑的可测试性设计。最后介绍了异步逻辑可测试性技术在一款芯片中的应用。……   
[关键词]:可测试性设计;异步逻辑;扫描设计;测试点
[文献类型]:会议论文
[文献出处]: 《第十届全国容错计算学术会议论文集2003年
App内打开